发布时间:2025-11-17 09:41:11浏览次数:10

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电缆在长期运行中,其绝缘性能是决定电缆安全与寿命的关键因素。其中,介质损耗(tanδ)是判断电缆绝缘健康最敏感、最直观的指标之一。当电缆的介质损耗值升高时,往往意味着绝缘材料内部出现了受潮、老化、结构损伤或局部放电等问题。如果不及时处理,可能会引发发热、绝缘击穿甚至电缆故障。为什么电缆的介质损耗会升高?以下从多个维度进行分析。
首先,绝缘受潮是介质损耗升高最常见的原因之一。对于交联聚乙烯(XLPE)电缆,虽然本身防潮性能较强,但电缆接头制作不良、外护套破损、密封不严、施工过程中进水或长期潮湿环境,都可能导致水分渗入绝缘层。水分会显著增加介质极化损耗,使tanδ迅速升高,甚至在交接试验中直接表现为介损超标。
其次,绝缘老化也是重要因素。电缆在运行过程中受到热老化、电场老化以及环境老化等多重影响,使绝缘材料的介电性能下降,内部微结构发生变化,导致介质损耗增加。特别是在长期高负载、温度长期偏高或散热不良的工况下,绝缘老化会更加明显。
第三,电缆屏蔽层或金属护套问题也会导致介损异常。例如屏蔽铜带断裂、接地不良、护套损伤导致外部杂散电流进入绝缘层,都可能造成介损升高甚至波动不稳定。屏蔽层的完整性是 XLPE 电缆健康运行的重要基础,一旦破坏,其电场分布会发生变化,直接影响介质损耗水平。
第四,电缆制造缺陷亦是潜在原因。例如绝缘材料交联不完全、杂质残留、气隙、树枝状缺陷(电树枝)、填充料不均匀等,都可能导致局部电场畸变,使绝缘损耗增加。此类缺陷在早期往往不易发现,但可通过介损测试敏感反映出来。
第五,电缆接头或终端制作不良也是介损升高的关键因素之一。许多电缆事故与接头有关,如半导电带包覆不均、铜屏蔽搭接不良、绝缘挤压不充分、密封不严、水树发展等。这些接头缺陷都会造成局部损耗增大,最终表现为整体介质损耗升高。
此外,电缆长期运行时可能会出现局部放电现象。局放会破坏绝缘结构,使绝缘逐步退化,导致介损持续升高。特别是高压、超高压电缆,在受潮或存在缺陷时更容易产生局部放电。
为了准确判定电缆介质损耗升高的原因,必须依赖于高精度介损测试设备。武汉龙电电气研发生产的全自动介质损耗测试仪,采用先进的数字滤波算法和自动调谐技术,即便在强干扰的变电站环境中,也能稳定测量 XLPE 电缆及其终端的 tanδ 值,帮助运维人员快速定位绝缘劣化或受潮隐患。设备支持多电压测试、趋势分析和自动记录功能,为电缆状态评估提供可靠依据。
总体而言,电缆介质损耗升高通常来自以下原因:
● 绝缘受潮
● 绝缘老化
● 屏蔽层或护套损伤
● 制造缺陷
● 接头或终端制作不良
● 局部放电初期发展
一旦tanδ出现异常,应及时结合电缆运行环境、接头状况、红外测温、局放检测等手段进行综合分析,避免绝缘缺陷扩大,及时消除风险,确保电缆安全可靠运行。